晶体取向和织构的测定方法总结

晶体取向的测定又称为单晶定向,就是找出晶体样品中晶体取向与样品外坐标系的位向关系。虽然可以用光学方法等物理方法确定单晶取向,但X衍射法不仅可以精确地确定单晶定向,同时还能得到晶体内部微观结构的信息。一般用劳埃法单晶定向,其根据是底片上劳埃斑点转换的极射赤面投影与样品外坐标轴的极射赤面投影之间的位置关系。透射劳埃法只适用于厚度小且吸收系数小的样品,背射劳埃法就无须特别制备样品,样品厚度大小等也不受限制,因而多用此方法。

多晶材料中晶粒取向沿一定方位偏聚的现象称为织构,常见的织构有丝织构和板织构两种类型。为反映织构的概貌和确定织构指数,有三种方法描述织构:极图、反极图和三维取向函数,这三种方法适用于不同的情况。对于丝织构,要知道其极图形式,只要求出其丝轴指数即可,照相法和衍射仪法是可用的方法。板织构的极点分布比较复杂,需要两个指数来表示,且多用衍射仪进行测定。

课后思考题

1.简述X射线的本质和性质。

2.简述X射线产生的原理和产生的条件。

3.简述X射线连续光谱和特征光谱产生的原因及特点。(www.zuozong.com)

4.简述X射线法精确测量晶格常数的方法原理与应用。

5.试总结简单立方点阵、体心立方点阵和面心立方点阵的衍射线系统消光规律。

6.体心立方晶体点阵常数a=0.286 6 nm,用波长λ=0.229 1 nm照射,试计算(110)、(200)及(211)晶面可能发生的衍射角?

7.已知Ni对Cu靶Kα和Kβ特征辐射的线吸收系数分别407 cm-1和2 448 cm-1,为使Cu靶的Kβ线透射系数是Kα线的1/6,求Ni滤波片的厚度?

8.X射线衍射定量分析(K值法)所依据的原理是什么?简述X射线定量分析的简要步骤。